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SAXSFocus 高性能 X 射线散射系统，提供原子到纳米尺度的结构、形貌以及界面信息。配备的高通量 X射线光源和精密准直镜，确保短时间内获得高质量的散射谱数据。兼容多种样品架以及原位台，智能判断实验需求，轻松实现不同模式切换，批量测试，提高测试效率。
应用领域：
医药、高分子、食品、能源、材料、生物
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X 射线源 |
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靶材 |
微焦斑点光源 Cu，可选靶材 : Mo, Ag 等 ，双靶可自动切换 液态金属靶光源 Ga，可选靶材 In（多混合比例） |
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X 射线光学 |
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X 射线反射镜 |
多层膜聚焦镜以及 X 射线准直镜 |
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无散射狭缝准直系统 |
无寄生散射，光斑大小可实时、连续、自动调整 |
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样品台 |
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粉末样品架 |
40/60 位粉末自动进样器 |
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毛细管样品架 |
30 位毛细管自动进样器 |
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固体样品架 |
30 位固体自动进样器 |
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凝胶样品架 |
15 位凝胶自动进样器 |
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多维度样品台 |
X /Y /Z 轴行程 ±75 mm，精度 1 μm；Omega 转角 ± 5°，Ry 转角 ± 5°，精度 0.001°；Phi 转角 330°，精度 0.001° |
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其他原位样品台 |
支持在各种原位环境下（温度、拉伸、梯度）等进行测试 |
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探测器 |
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二维硅阵列单光子计数探测器 |
连续读出，无死时间，无读出噪音或暗电流 像素 75 μm × 75 μm 动态范围 32 bits |
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散射光路 |
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类型 |
真空散射管腔，探测器沿入射光路方向可全程自动移动 |
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SD 距离 |
30 mm - 6000 mm |
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可测散射矢量 q |
0.007 nm-1 - 50 nm-1 |
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软件 |
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数据采集及分析 |
可进行设备自动化控制 , 自动数据采集 , 支持批量测试及数据批处理 具有专业数据拟合软件，涵盖常见的各种数据分析拟合功能 |
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分辨率（Cu 靶） |
SD 距离 (mm) |
qmin(nm-1) |
qmin(nm-1)*(BS=1.5 mm) |
尺度(nm)*(BS=1.5 mm) |
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30 |
0.5 |
2 |
3.1 |
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500 |
0.025 |
0.12 |
52.3 |
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1250 |
0.0105 |
0.051 |
123 |
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2800 |
0.0045 |
0.022 |
285.5 |
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6000 |
0.001 |
0.01 |
628.0 |
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其他 |
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电气 规格不同型号长度有所差异 |
AC220 V，50 Hz（单相）或 AC380 V，50 Hz（三相） |
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4150 mm x 1150 mm x 1680 mm/6650 mm x 1150 mm x 1680 mm/10150mm x 1150mm x 1680 mm |
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