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产品名称:PILATUS 4 R CdTe-瑞士DECTRIS(德科特思)混合像素光子计数X射线探测器

品牌:DECTRIS

产地:瑞士

凭借高于95%的量子效率,及其高达155x162毫米的极大有效面积,PILATUS4RCdTe探测器可对基于从铜(Cu)到铟(In)的任何X射线源的快速数据收集。特别是对于钼(Mo)、银(Ag)和铟(In)辐射,PILATUS4RCdTe的性能优于其他配有硅传感器的HPC探测器。

产品介绍技术参数解决方案产品展示
凭借高于 95% 的量子效率,及其高达 155 x 162 毫米的有效面积,PILATUS4 R CdTe 探测器可对基于从铜(Cu)到铟(In)的任何X射线源的快速数据收集。特别是对于钼(Mo)、银(Ag)和铟(In)辐射,PILATUS4 R CdTe 的性能优于其他配有硅传感器的 HPC 探测器。 PILATUS4 凭借出色的计数率和无探测器背景噪声的特点,实现了跨越十个数量级的广泛动态范围,高达 200Hz 的内部帧速,进一步优化了计数率校准,从而确保高强度测量的准确性。此外,PILATUS4 还具备四个能量区分阈值,为劳厄衍射和光谱成像等应用带来了新的可能。
PILATUS 4 R CdTe
1M 260K 260K-W
有效成像面积 (W x H) [mm²]
155.0 x 162.0
77.0 x 79.5
155.0 x 38.3
像素阵列 (W x H)
1,033 x 1,080
513 x 530
1,033 x 255
像素大小 (W x H) [µm²]
150 x 150
150 x 150
150 x 150
能量范围 [keV]
8 - 25 (8 - 100)1
8 - 25 (8 - 100)1
8 - 25 (8 - 100)1
能量阈值数量
4 4 4
阈值范围 [keV]
4 - 30 (4 - 80)1
4 - 30 (4 - 80)1
4 - 30 (4 - 80)1
计数率 [ph/s/pixel]
5.0 x 106
5.0 x 106
5.0 x 106
帧频 [1] (max.) [Hz]
10 100 100
读出时间[2]
Continuous
Continuous
Continuous
传感器材料
Cadmium telluride (CdTe)
Cadmium telluride (CdTe)
Cadmium telluride (CdTe)
传感器厚度 [µm]
1,000 1,000
1,000
点扩散函数 (FWHM) [pixels]
1 1 1
尺寸(W x H x D) [mm³] 
235 x 237 x 372
114 x 133 x 242
192 x 92 x 277
重量 [kg]
15 4.7 5.8