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产品名称:PILATUS3 R CdTe-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器

品牌:Dectris

产地:瑞士

1、产品特点:PILATUS3RCdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉(CdTe)传感器中直接检测硬X射线的优点。与闪烁体的检测器相比,混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。CdTe为Mo,Ag和In辐射提供接近100%的吸收效率。结合无噪声单光子...

产品介绍技术参数解决方案产品展示

1、产品特点:

 PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉(CdTe)传感器中直接检测硬X射线的优点。
      与闪烁体的检测器相比,混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo,Ag和In辐射提供接近100%的吸收效率。结合无噪声单光子计数,这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
      实验室中的X射线源,尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多,因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号,由于没有暗电流和读出噪音,PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性,例如复位噪声和非线性电荷响应。相反,由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供了较快的计数能力,结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围,完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。
       具有挑战性的实验室应用(如电荷密度研究和配对分布函数分析)依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据,PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的组合,并且是实验室中这些要求的更高匹配。

2、核心优势
     - Mo,Ag和In量子效率> 90%
     - 直接检测清晰的空间分辨率
     - 没有读出噪音,也没有黑暗信号达到较高精度
     - 高动态范围
     - 荧光背景抑制
     - 计数率
     - 同步辐射级别的辐射硬度
     - 免维护运行
     - 高可靠性:没有容易发生故障的密封,无需冷却至室温以下


 3、应用领域
     - 电荷密度分析
     - 对分布函数(PDF)分析
     - 高分辨率化学结晶学
     - 高压/高温XRD
     - 关键尺寸SAXS
     - 计算机断层扫描(CT)
     - 无损检测(NDT)

技术参数: 

PILATUS3   R CdTe

1M

300K

300K-W

100K

探测器模块数量

2 × 5

1 × 3

× 1

1 × 1

有效面积:宽×高   [mm²]

168.7 x 179.4

83.8 × 106.5

253.7 x 33.5

83.8 x 33.5

像素大小 [μm²]

172 x 172

总像素数量

981 x 1043 

487 × 619

1475 × 195

487 x 195

间隙宽度, 水平/垂直(像素)

*每个模块之间水平间隙增加1个像素

7* / 17

- */ 17

7* / -

-* / -

非灵敏区 [ % ]

7.8

5.7

1.1

0.2

缺陷像素

< 0.1%

帧频 [Hz]

5

20

20

20

读出时间 [ms]

7

点扩散函数

1 pixel(FWHM)

计数器深度

20 bits(1,048,576 counts)

功耗 [W]

165

30

30

30

尺寸(WHD)[mm³]

265 x 286 x 455

158 x 193 x 262

280 x 62 x 296

114 x 69 x 118 (探头)

重量 [kg]

25

7.5

7.0

0.9(探头)

模块冷却

水冷

水冷

水冷

水冷

外接触发电压

5V TTL

5V TTL

\

\


PILATUS3 R CdTe 1M



PILATUS3 R CdTe 300K



PILATUS3 R CdTe 300K-W

PILATUS3 R CdTe 100K